A63.7081 Schottky Field Emission Gun Scanning Elektron Mikroskop Pro FEG SEM, 15x ~ 800000x

A63.7081 Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope Pro FEG SEM, 15x~800000x Featured Image

Qisqa Tasvir:

15x ~ 800000x Schottky Field Emission Gun Scanning Elektron Mikroskopi
Barqaror nurli oqim bilan elektron nurlanish tezlashuvi past kuchlanish ostida ajoyib tasvir
Supero'tkazuvchilar bo'lmagan namunani to'g'ridan-to'g'ri kuzatish mumkin, past voltajda sochilib ketishning hojati yo'q
Windows tizimidagi sichqoncha yordamida boshqariladigan oson va qulay ishlash interfeysi
Besh o'qi evkentrik motorli bosqichi bo'lgan katta namuna xonasi, katta o'lchovli dia.320mm
Minimal buyurtma miqdori:1

Mahsulot detali

Mahsulot teglari

A63.7081_01.jpg

Mahsulot tavsifi

A63.7081 Shotki dala emissiya tabancası Elektron mikroskopni skanerlash Pro FEG SEM
Qaror		1nm @ 30KV (SE); 3nm @ 1KV (SE); 2.5nm@30KV (BSE)
Kattalashtirish		15x ~ 800000x
Elektron qurol		Shotki emissiyali elektron qurol
Elektron nurli oqim		10pA ~ 0.3mA
Voatajni tezlashtirish		0 ~ 30KV
Vakuum tizimi		2 ionli nasoslar, turbo molekulyar nasos, mexanik nasos
Detektor		SE: Yuqori vakuumli ikkilamchi elektron detektor (detektor himoyasi bilan)
		BSE: Yarimo'tkazgichli to'rtta segmentatsiyani qaytarib tarqatish detektori
		CCD
Namuna bosqichi		Beshta eksa evtsentrik motorli bosqich
Sayohat doirasi	X	0 ~ 150 mm
	Y	0 ~ 150 mm
	Z	0 ~ 60 mm
	R	360º
	T	-5º ~ 75º
Maksimal namuna diametri		320 mm
O'zgartirish		EBL; STM; AFM; isitish bosqichi; kriyo bosqichi; tortish bosqichi; mikro-nano manipulyator; SEM + qoplama mashinasi; SEM + lazer va boshqalar.
Aksessuarlar		Rentgen detektori (EDS), EBSD, CL, WDS, qoplama mashinasi va boshqalar.

A63.7081_03.jpg

A63.7081_04.jpg

A63.7081_05.jpg

A63.7081_06.jpg

A63.7081_07.jpg

A63.7081_08.jpg

A63.7081_09.jpg

A63.7081_10.jpg

A63.7081_11.jpg

Afzallik va holatlar

Skanerlash elektron mikroskopi (sem) metallar, keramika, yarimo'tkazgichlar, minerallar, biologiya, polimerlar, kompozitlar va nano-o'lchovli bir o'lchovli, ikki o'lchovli va uch o'lchovli materiallarning sirt relyefini kuzatish uchun javob beradi (ikkilamchi elektron tasvir, Bu mikrorayonning nuqta, chiziq va sirt qismlarini tahlil qilish uchun ishlatilishi mumkin, neft, geologiya, mineral konlar, elektronika, yarimo'tkazgichlar, tibbiyot, biologiya sohalarida, kimyo sanoati, polimer materiallari sohasida, jamoat xavfsizligi, qishloq xo'jaligi, o'rmon xo'jaligi va boshqa sohalarni jinoiy tergov qilish.